7950

مروري بر سالخوردگي، قابليت اطمينان و توان مصرفي تراشه هاي قابل بازپيكربندي مدرن (fpga)

1399-1398

دكتر حاكم بيت الهي

تلاش براي رسيدن به مدارهايي با كارايي بالا، مصرف توان كم و هزينه پايين، دليل اصلي كوچك شدن مداوم سايز ترانزيستورها در مقياس نانومتر هستند. اين كاهش در حال حاضر با محدوديت هاي اساسي مواجه است. كه چالش هاي مختلف ساخت و قابليت اطمينان را براي تراشه هاي قابل بازپيكربندي ايجاد ميكند. يكي از اين چالش ها سالخوردگي مي باشد، كه باعث افزايش تأخير و همچنين افزايش خطاهاي گذرا ميشود. از اين رو در اين گزارش، ما به بررسي روش هاي اندازه گيري و كاهش سالخوردگي در المان هاي مسيريابي تراشه هاي قابل بازپيكربندي خواهيم پرداخت، و نشان خواهيم داد با استفاده از رويكردهاي مناسب مي توان اثرات سالخوردگي در سلول هاي حافظه پيكربندي را تا 32.18 %كاهش داد. و همچنين با استفاده از الگوريتم مسيريابي مطلع از سالخوردگي به بهبود 3.64 %خواهيم رسيد. ما نيز نشان خواهيم داد، سالخوردگي با داشتن معايب عملكردي ميتواند منجربه كاهش 5 %توان مصرفي شود.

1/6/2021 12:00:00 AM

69839

1399/10/21

Overview of aging, reliability and power consumption of Reconfigurable processors (fpga)

سالخوردگي , قابليت اطمينان , توان نشتي , سلول هاي SRAM

aging , reliability , Leakage power , SRAM cells