شماره ركورد
10621
شماره راهنما(اين فيلد مربوط به كارشناس ميباشد لطفا آن را خالي بگذاريد)
10621
پديد آورنده
الهه صدرالديني
عنوان
خودآزموني در سامانههاي بر تراشه مبتني بر هسته
مقطع تحصيلي
كارشناسي ارشد
رشته تحصيلي
كامپيوتر - معماري سيستمهاي كامپيوتري
سال تحصيل
شهريور ماه 1391
تاريخ دفاع
شهريور ماه 1391
استاد راهنما
دكتر محمود فتحي - دكتر زين العابدين نوابي
چكيده
با پيشرفت تكنولوژي، اندازه مدارهاي ديجيتال مجتمع كاهش پيدا كرده و مدارهاي پيچيدهتر و چگالتري طراحي ميشوند. اگرچه روشهاي آزمون و آزمونپذيري نيز پيشرفت كردهاند، اما چالشهاي جديدي در اين زمينه پديدار شدهاند. از اساسيترين مشكلاتي كه در نتيجهي بزرگتر شدن سامانهها ميتوان نام برد، زمان آزمون و انتقال بردارهاي آزمون به هستههاي داخلي سامانههاي بر تراشهي پيچيده ميباشد. زماني كه سامانهها بزرگ و بزرگتر ميشوند، هزينهي ارسال داده به اجزاء داخلي افزايش پيدا خواهد كرد. علاوه بر اين، سربار حافظه براي ذخيرهكردن اين بردارها افزايش مييابد.
در اين رساله سعي شده است كه با ارائهي روشهاي بهينه، تعداد بردارهاي آزمون را كاهش داده و زمان اعمال آزمون را كمينه كند. همچنين با ارائهي معماريهاي كارا، عمليات آزمون را تا حد ممكن به داخل تراشه انتقال دهد و بدين ترتيب فرايند آزمون را تسهيل بخشد.
در ابتدا دو معماري تركيبي آزمون خودكار توكار براي آزمون درون-هستهاي ارائه شدهاند. اين روشها، يك فرايند آزمون چند مرحلهاي را ارائه ميكنند كه روي يك معماري آزمون خودكار توكار براي كاهش زمان آزمون، پيادهسازي شده است كه به طور ميانگين 35% نسبت به روش قبلي زمان آزمون كاهش پيدا كرده است و ميتواند در نگاه كليتر براي آزمون سامانههاي بر تراشه به كار رود. همچنين يك روش آزمون برون-هستهاي براي آزمون سامانههاي بر تراشه ارائه شده است. اين روش، يك شيوهي جديد براي توليد داده و زمانبندي آزمون براي سامانههاي بر تراشهي چند كلاكه به همراه يك معماري تركيبي آزمون خودكار توكار براي آزمون هستهها ارائه ميدهد. همچنين يك روش ابتكاري براي انتخاب هستههايي كه ميتوانند به طور همزمان آزمون شوند و ترتيب اعمال بردارهاي آزمون ارائه شده است. در انتها، يك طرح بهبود يافته براي توليد بردارهاي آزمون مشخص در سامانههاي بر تراشه ارائه شده است. اين روش تعداد بردارهاي آزمون مشخص را به طور قابل توجهي كاهش ميدهد و در نتيجه، زمان اعمال الگوهاي آزمون كاهش پيدا خواهد كرد.
واژههاي كليدي: سامانههاي بر تراشه، طراحي براي آزمون، آزمون خودكار توكار تركيبي، زمانبندي آزمون، كاهش دادهي آزمون