14073

14073

آزمون غير مخرب براي تشخيص نقص مدارهاي مايكرواستريپ با استفاده از بررسي ميدان هاي نزديك

كارشناسي ارشد

مخابرات ميدان

بهمن ماه 1393

بهمن ماه 1393

دكتر مجيد طيراني

برق

چكيده ارائه ي روش هاي غير مخرب براي كنترل كيفيت محصولات توجه زيادي را در سال هاي اخير به خود جلب كرده است. به خصوص به دليل پيچيدگي مدار هاي مايكرواستريپ و كاربرد فراوان اين محصولات وجود يك روش براي عيب يابي بدون آسيب رساندن به آن ضروري به نظر مي رسد. در اين رساله، ابتدا به معرفي آزمون غير مخرب پرداخته و در مورد اهميت آن بحث خواهد شد. آزمون جريان ادي كه يكي از متداول ترين روش هاي آزمون غير مخرب است، توضيح داده خواهد شد. سپس، به طبقه بندي يافته هاي تجقيقات انجام شده با استفاده از آزمون جريان ادي براي تحليل مدار هاي مايكرواستريپ مي پردازيم و آزمون غير مخربي بر اساس الگوي تشعشعي ميدان هاي مغناطيسي ناشي از جريان روي هادي مدارهاي مايكرواستريپ بررسي خواهد شد. در ادامه، نتايج به دست آمده از اين روش براي ناپيوستگي هاي مختلف از جمله اتصال كوتاه، مدار باز و خميدگي، تركيب آن ها و تعميم آن به ساختار هاي چند لايه بيان خواهد شد. نتايج نشان مي دهند كه اين آزمون مي تواند با مقايسه ي الگوي تشعشعي ميدان نزديك برد هاي مايكرواستريپ با يك حالت مرجع بدون نقص، تفاوت ها را تشخيص دهد و در برخي موارد نوع نقص و مكان آن را نيز شناسايي كند. هم چنين براي ساختارهاي دو لايه و بيش تر به راحتي روش قابل تعميم بوده است. واژه‌هاي كليدي: آزمون غير مخرب، مدار مايكرواستريپ، آزمون جريان ادي، الگوي تشعشعي ميدان مغناطيسي، ناپيوستگي